GTS-RP1200

适用领域：毫米波卫星、相控阵天线、毫米波雷达、毫米波基站、终端、芯片测量

产品概述

测试环节是相控阵天线产品批量生产、研发和维保的瓶颈问题。相控阵天线产品安装和测试耗时费力；测试设备占地面积超过 200 平米，高度超过 10 米，需要专门的场所来容纳，大批量建造难度大成本高。如何利用有限的场地，快速、批量、精确地测试相控阵天线，成为国防及航天领域广泛使用相控阵产品的挑战。

通用测试从理论基础、系统设计、仿真实验和产品实测全闭环验证，解决了相控阵雷达大批量生产的这一“卡脖子”问题。其研制的雷达相控阵天线快速测试系统，创造性解决正样产品批量测试的难题，测试精度满足正样产品测试要求，通过国防计量单位校准计量，系统稳定可靠，近半年时间为客户 24 小时连续服务至今，测试效能提高 3 至 6 倍，节约人力投入，兼容自动化产线。

功能性能

测试功能

（1）无源测试功能

天线1D/2D/3D增益 / 相位方向图、方向性、效率、交叉极化比、前后比、副瓣电平、零点填充、波束宽度、波束指向（瞄准误差）、轴比、相位中心等。

（2）有源测试功能

有源增益、G/T、EIRP、射频一致性、协议一致性。

（3）相控阵天线校准

紧缩场校准法、旋转矢量法。

测试性能

静区性能是衡量紧缩场系统的核心指标之一，RP系统的静区性能国际领先，并在系统仿真设计、馈源、反射面、吸波材料、转台和静区检测设备均掌握国际/国内领先的核心技术。

静区第三方测试报告截图

测试系统的效率源于对用户需求和被测件的深刻理解，在满足客户测试精度要求的基础上，不断提升测试效率，直到效率和精度的完美平衡。

核心技术

1.相位中心一致的馈源

相比传统的波纹喇叭馈源，通用测试自主研发的紧缩场馈源，宽角度交叉极化性能优异，E面和H面相位中心波动≤5°，驻波小于1.5。在系统整体仿真中，系统交叉极化测试精度提高近3倍，相位测试精度提高约20%。

2.低边缘散射的反射面

新型吸波围边反射面和传统的锯齿边 / 卷边反射面相比，能有效降低纯金属边缘带来的电磁波散射，削弱散射波对静区的干扰，进而提升精度的幅相均匀性，实测静区性能赶超国际先进水平，其中相位总变化达8°。同时，新型围边反射面能利用较小的金属反射面区域产生较大的静区范围，从而降低反射面尺寸要求，减少反射面重量。

吸波围边反射面

3.轻质低热膨胀反射面

通用测试新研制的石墨反射面，和传统金属反射面相比，重量减轻约50%，热膨胀系数为铝合金的1/10，显著降低了因为重力、热应力和温度变化带来的反射面形变，提高静区性能。

4.低散射高精度转台

通用测试掌握精密机电技术，与系统全波仿真，自研吸波材料，微秒级连续触发技术相结合，在保证系统机械精度的同时，降低转台对测试区域干扰，正反往复测试误差零积累，提高测试效率近一倍。转台的维度、精度、运动范围、承重等指标可根据需求定制。

低散射高精度转台

5.EPP高性能吸波材料

通用测试自主研发、生产和测试的EPP吸波材料，选用环保、耐久的EPP吸波基体；采用全波仿真优化设计，保证了吸波材料整体的吸波性能；超宽频、多入射角吸收率测试技术，保证每块吸波材料的品质和质量；拥有优异的性能，其阻燃性能满足足 UL94 HF-1标准，吸波性能国际领先，不掉粉，不吸潮，广泛适用于室外、洁净间、PIM暗室、OTA暗室等各种应用场景。

6.高低温测试模组

RP600/RP600Y系列可加装隔热透波罩，实现-10~55℃的高低温冲击和循环测试。隔热透波罩适配现有转台，用户升级改动小，可灵活拆装，不影响原有测试功能。