RP1200

适用领域:毫米波卫星、相控阵天线 、毫米波雷达、毫米波基站、终端、芯片测量

产品概述

测试环节是相控阵天线产品批量生产、研发和维保的瓶颈问题。相控阵天线产品安装和测试耗时费力;测试设备占地面积超过200平米,高度超过10米,需要专门的场所来容纳,大批量建造难度大成本高。如何利用有限的场地,快速、批量、精确地测试相控阵天线,成为国防及航天领域广泛使用相控阵产品的挑战。

 

通用测试从理论基础、系统设计、仿真实验和产品实测全闭环验证,解决了相控阵雷达大批量生产的这一“卡脖子”问题。其研制的雷达相控阵天线快速测试系统,创造性解决正样产品批量测试的难题,测试精度满足正样产品测试要求,通过国防计量单位校准计量,系统稳定可靠,近半年时间为客户24小时连续服务至今,测试效能提高3至6倍,节约人力投入,兼容自动化产线。

功能性能

测试功能

RP1200紧缩场测试系统适配≤700mm口径的相控阵天线,频段范围2~110GHz,转台和产品夹持方式可根据用户需求定制,系统外尺寸可根据用户场地灵活调整,测试项目包括相控阵天线校准、无源和有源的收发性能测试等。

(1)无源测试功能

天线1D/2D/3D增益/相位方向图、方向性、效率、交叉极化比、前后比、副瓣电平、零点填充、波束宽度、波束指向(瞄准误差)、轴比、相位中心等。

(2)有源测试功能

有源增益、G/T、EIRP、射频一致性、协议一致性。

(3)相控阵天线校准

紧缩场校准法、旋转矢量法。

测试性能

静区性能是衡量紧缩场系统的核心指标之一,RP系统的静区性能国际领先,并在系统仿真设计、馈源、反射面、吸波材料、转台和静区检测设备均掌握国际/国内领先的核心技术。

静区第三方测试报告截图

测试系统的效率源于对用户需求和被测件的深刻理解,在满足客户测试精度要求的基础上,不断提升测试效率,直到效率和精度的完美平衡。

核心技术

1.相位中心一致的馈源

相比传统的波纹喇叭馈源,通用测试自主研发的紧缩场馈源,宽角度交叉极化性能优异,E面和H面相位中心波动≤5°,驻波小于1.5。在系统整体仿真中,系统交叉极化测试精度提高近3倍,相位测试精度提高约20%。

2.低边缘散射的反射面

新型吸波围边反射面和传统的锯齿边 / 卷边反射面相比,能有效降低纯金属边缘带来的电磁波散射,削弱散射波对静区的干扰,进而提升精度的幅相均匀性,实测静区性能赶超国际先进水平,其中相位总变化达8°。同时,新型围边反射面能利用较小的金属反射面区域产生较大的静区范围,从而降低反射面尺寸要求,减少反射面重量。

吸波围边反射面

3.低散射高精度转台

通用测试掌握精密机电技术,与系统全波仿真,自研吸波材料,微秒级连续触发技术相结合,在保证系统机械精度的同时,降低转台对测试区域干扰,正反往复测试误差零积累,提高测试效率近一倍。转台的维度、精度、运动范围、承重等指标可根据需求定制。

低散射高精度转台

4.EPP高性能吸波材料

通用测试自主研发、生产和测试的EPP吸波材料,选用环保、耐久的EPP吸波基体;采用全波仿真优化设计,保证了吸波材料整体的吸波性能;超宽频、多入射角吸收率测试技术,保证每块吸波材料的品质和质量;拥有优异的性能,其阻燃性能满足足 UL94 HF-1标准,吸波性能国际领先,不掉粉,不吸潮,广泛适用于室外、洁净间、PIM暗室、OTA暗室等各种应用场景。

5.高低温测试模组

RP1200系列可加装隔热透波罩,实现-10~55℃的高低温冲击和循环测试。隔热透波罩适配现有转台,用户升级改动小,可灵活拆装,不影响原有测试功能。

隔热透波罩

6.连续触发控制器

连续触发控制器采用微秒级实时连续触发技术,将转台、相控阵天线、链路、仪表和软件的复杂状态和时序同步起来,实现多频点、多通道、多波位的快速测试。

7.产品自动装卸技术

机械臂自动装卸系统、快装夹具和快插接头实现了产品的自动装卸,提高了产品测试整体效率和容错率,降低了人力成本。

8.全面的相控阵天线测试保障

相控阵天线在研制阶段通常需要特殊的供电、水冷、波控等,通用测试在相控阵测试领域经验丰富,对于相控阵天线的供电、水冷和波控可以按照客户要求,定制更加完善和可靠的解决方案。

9.全功能测控软件智能化程度高

通用测试拥有专业的软件平台,给用户带来流畅的测试感受。相控阵天线测试软件对仪表设备、被测件完美支持,从校准、烧录、验证、测试、记录、分析、上传等功能于一体,接口开放,亦可实现一键测试,全面提升现有测试流程效率及使用体验。