第三期丨通用测试相控阵天线测试系统之 RayPact 系列
随着相控阵天线的应用越来越广，传统测试系统的不足凸显：天线测试效率低，无法满足批量生产需求；占地面积大，需要专门建筑200㎡×10m以上大规模空间，大批量建造成本高；调试过程与测试装夹复杂，对测试系统精度和环境要求高；设备在组装完成之后，自动化测试难度高，对参数校准测试要求严格，测试过程费时耗力。因此，紧凑、快速、精确、自动化的相控阵天线测试系统，成为相控阵天线研发的迫切需求，成为其批量生产的基础保障，成为促进其在国防及航天领域发展的强力支撑。
通用测试自成立以来一直致力于无线通信设备、雷达、AIP芯片等产品的全生命周期无线性能测试，针对相控阵天线测试行业困境专门研发了相控阵天线测试系统 RayPact 系列。
RayPact 系列由紧缩场暗室子系统、射频子系统、转台子系统、供电和控制子系统、水冷子系统、被测件装夹子系统和测控软件组成。通过测控单元、软件、波控测试盒、转台和仪器仪表的整体联合设计，实现微秒级实时控制功能，以及各设备仪器的协调工作和快速测试。
01 多功能
RayPact 测试系统的测试功能齐全，具有多波束、多波位、多频点、多通道测试功能，并具有天线发射状态和接收状态测试功能（收发状态系统自动切换），具有良好的扩展性。测试系统可以实现相控阵天线幅相校准，天线方向图、波束宽度、G/T、零点填充、副瓣、交叉极化和波束指向测试；天线罩传输效率、瞄准误差、近区副瓣电平抬高、远区RMS副瓣电平抬高、镜像波瓣电平、差方向图零深电平抬高等功能。测控软件可实时显示测试曲线，数据分析软件能实现方向图等二次参数的解析，并嵌入测控软件，实现随行文件的自动生成和数据上传。
02 高效率
RayPact 测试系统通过测控单元、软件、波控测试盒、转台和仪器仪表的整体联合设计，实现微秒级实时控制功能，以及各设备仪器的协调工作和快速测试。通过实时触发控制，可以一次连续扫描，完成多波束（波位）、多频点、多通道的测试，提高测试效率。转台上连接设备的转接夹具经过快速装夹设计，连接被测件的电源、控制和射频电缆也经过快速对接设计，提高了被测件上下料的效率，缩短了测试时间。
03 高冗余
RayPact 测试系统结合系统全波仿真和 GTS 自主研发的高相位一致馈源、吸波围边反射面和高精度、高可靠性多维转台，其紧缩场系统的静区性能和静区反射面占比领先国际水平，静区性能的冗余设计保证了测试系统的可靠性。采用先进的仪器仪表和高动态范围链路设计，保证了数据采集的高精度和可靠性。
04 高精度
RayPact 系列配有多维转台，根据用户需求配有方位、极化、俯仰和平移等运动方式。通用测试针对毫米波测试中广泛遇到的波束宽度窄，测试时间长，转台遮挡等挑战，改良并设计了适用于毫米波测量的高精度、快速采样、低遮挡多维转台。转台采用超高精度传动机构，实现超高定位性能，采用进口超高等级交叉滚珠轴环，具有超高运动性能，其重复定位精度±0.01°，分辨率 0.01°，广泛适用于各种毫米波被测件的高精度测试需求。
05 定制化高性能吸波材料
通用测试具有专利技术的高性能毫米波小角锥吸波材料，采用闭孔发泡 EPP（Expanded polypropylene，发泡聚丙烯），材料环保，寿命长。
- 吸波材料不吸潮，无粉尘，不变形，可长时间维持稳定性能，确保暗室良好的吸收性能。
- 吸波材料总高小于 10cm，在保证吸收率的同时极大的降低了暗室空间占比，使暗室内空间更宽敞。
- 吸波材料的各项电磁参数可测可检、外形可定制。
06 反射面专利设计
通用测试通过在反射面外沿嵌套吸波围边的方式，巧妙地将反射面和箱体吸波内壁融为一体，大大降低了反射面边缘散射的影响，增大静区占比，提高静区质量。新型反射面能有效降低纯金属边缘带来的电磁波散射，进而削弱散射波对静区的干扰，提升静区的幅相平稳度。
RayPact 系列产品的每个精密部件均进行了精心设计和搭配，针对毫米波大路损的难点，优化布局，最大限度利用了箱体空间，有效降低空衰。此外，针对不同被测件的多样化测试需求，系统还预留了足够的升级空间（夹具灵活配置、链路冗余设计等）。该系统兼容市场上通用品牌和型号的测试仪表，并可开放软件接口给用户，满足技术演进、测试升级需求。