第二期丨通用测试相控阵天线测试系统之 Charon 系列

相控阵天线几千个波位方向图的测试非常耗时，提高测试速度将大大提升研发效率、突破批量生产的产能瓶颈。通用测试针对相控阵天线的测试痛点，推出了高精度的球面近场相控阵多波位快速测试系统 Charon 系列。

01 多波位多波束快速测试

有源相控阵通常有多个测试通道、多个波束指向状态，采用普通的测量系统，需要对每一个天线状态分别进行测试，测试效率低。Charon 系列通过通道切换和被测件波位控制，可以在一次扫描测试中，完成多个测试通道及多个波位状态的测试，提高测试效率数倍。

02 低交叉极化波纹喇叭

测量探头采用 GTS 自主研制的一款适合球面近场测试系统的波纹喇叭天线。Charon 系列多个产品型号分别覆盖了1~50GHz不同的毫米波测试频段。该探头由波纹喇叭和正交模耦合器组成，以实现天线的双极化功能，大大提高测试效率。天线设计指标对标国际先进的探头天线指标，其中宽角度交叉极化设计性能世界领先。

该系统双极化波纹喇叭在宽频段范围内，具有良好的宽角度交叉极化纯度，对称波束，低旁瓣，和低回波损耗，能显著提高大型被测件的低交叉极化测量的精度。天线采用高精密加工，精度达到±0.01mm。通过特种加工严格控制零件内棱边质量和粗糙度，加工面光滑，杜绝了毛刺对交叉极化的影响。

03 高精度定位系统

Charon 系列的核心部件采用日本 THK 品牌 HCR 系列高精度标准化轨道，定位精度优于0.02°，结构稳定，高负载，具有极强的可靠性和耐久性。测量探头通过安装在弧形轨道上的滑块实现移动采样。在弧形轨道圆心处设置有方位转台，由于转台安装面水平，对于含复杂地检设备的有源相控阵天线的安装测试十分方便。与此同时，转台还可以在水平面二维移动，移动精度优于0.01mm，用于被测件位置精准调整。

04 系统功能强

Charon 测试系统覆盖相控阵天线的大部分测试场景，实现一站式测试。除了基本的近远场方向图测试，还具有相位中心测试功能，集成的后处理算法可利用方向图结果进行计算，无需进行额外的相位中心测试。此外，系列产品中的 Charon 8000 还创造性地实现了近场条件下的 EIRP 测试和 G/T 值测试，避免了被测件不停转场以满足不同的测试需求。

05 全自动化测试

Charon 测试系统实现了测试过程全自动化，并具备任务批处理功能。被测件在完成首次工装并建立连接之后，在软件端即可实现通道切换（多波束）、测试频点切换、收发模式切换，还可以将设置的不同任务进行批处理，实现全程自动化的无人值守测试。

06 拆装便捷，方便移动

测试系统采用分布式采样定位结构，将俯仰轴和方位轴分离设计。垂直弧形导轨结构实现俯仰角扫描，水平转台实现被测件方位旋转。因而被测件只需在水平面一维转动，架设极为方便（尤其是线缆和部件繁杂的有源相控阵天线），解决了平面近场、直接远场、紧缩场等面临垂直安装和线缆缠绕的难题。该系统自带移动轮，适用于环境有限和需要灵活安置测试系统的使用场景。根据客户场地情况，可在工厂组装并校准后，整体或者拆分运输至现场进行安装，实现快速交付。