EMID100B：通用测试自主研发的电磁干扰检测系统

EMID100B是通用测试针对复杂电子设备和系统电磁干扰问题，全新自主研发的一套电磁干扰源定位、诊断和分析的专业解决方案。搭配扫描噪声源定位方法，结合平面近远场变换，对干扰源进行快速精准定位。

01 系统功能强

• 采用可编程人机协作机械臂，实现自动化扫描，扫描面最大可达60cm×60cm。
• 支持30MHz-8GHz（可扩展至18GHz）工作频段。
• 支持对被测件辐射电磁功率强度计算、电磁辐射噪声源定位、远场电磁辐射噪声计算等多种测试功能。
• 软件集成系统校准功能，支持断点续测及异常恢复，有效提升测量的可靠性和流畅性。

02 测试速度快

• 近场扫描技术在被测件结构细节未知情况下，基于电磁感应，实现对被测件近场快速测量，对于超大阵列和多波位状态测量，效果尤为明显。
• 通过天线近场测量，利用平面波谱传播，可对天线远场进行计算，提高天线性能测试效率，节约测试成本。
• 利用近场扫描结果，通过重构场源信息，快速计算出被测件方向图，测试速度可提升 2–10 倍。
• 通过优化采样和创新测试方法，对采用相控阵天线技术的芯片、终端以及基站系统，可实现较小空间内快速测量。

03 测试种类齐全

• 支持近场扫描测试，通过频谱仪（SA）或矢量网络分析仪（VNA）获得近场扫描平面上的被测件幅度信息。
• 支持远场扫描测试，通过矢量网络分析仪（VNA）获得远场扫描平面上被测件幅度相位信息。
• 支持远场到近场的变换扫描测试，在距离被测件平面较远的扫描面上获取被测场的幅值和相位，能可靠地定位只对远场辐射有贡献的辐射源。

04 系统结构清晰

• 软件校准方法准确、操作简单，工程师可通过简单配置快速开始测试。
• 软件具有良好的系统扩展性能，可快速响应新的行业需求。
• 可根据客户需求导入标准化测试结果，与客户专有业务系统集成。
• 硬件设备主要包括机械臂、磁场探头、低噪声放大器、相机、测试夹具等，在测试过程中紧密结合，确保测试顺利开展。

05 结构设计精巧

• 尺寸灵活，结构紧密，可根据用户差异化需求进行不同尺寸的定制。
• 易于移动，可放置在普通实验台、办公室或其他小型空间场所，极大方便了工程师的调试和验证工作。
• 轻便牢固，良好的机械性能，精心的结构设计，便于安装。

06 数据展示丰富

• 支持不同扫描方向、频率数据显示，提供数据查看、分析、诊断、追溯功能。
• 支持导出测试数据进行进一步诊断分析。
• 支持热力图对干扰源的展示和定位，通过可视化图表，清晰直观地呈现数据。

EMI系统可实现工程师指定频率下的电磁干扰噪声源自动扫描和迅速定位，并尽可能多的提供噪声源信息，以便进行相应的电磁干扰诊断和抑制，广泛适用于高校实验室以及工厂，是终端设备研发的可靠选择。