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贺丨通用测试于伟博士荣获“IEEE 技术成就奖”

发表时间:2018-08-02 15:30:23

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可用于4G及5G MIMO OTA测试的“辐射两阶段法”(Radiated Two-Stage,RTS方法)已正式被3GPP标准组织承认为测试标准。作为该国际标准的提出者,通用测试在RTS方法的研究中起主导作用并做出了巨大贡献。IEEE协会向通用测试于伟博士颁发了“IEEE 技术成就奖”


 “2018 IEEE国际暨亚太电磁兼容联合会议及展览会”于5月14日至5月17日在新加坡举办并获得圆满成功。通用测试(GTS)代表团参加了本次行业盛事并斩获多项荣誉。

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  ▲于伟博士获得“IEEE 技术成就奖”

 

可用于4G及5G MIMO OTA测试的“辐射两阶段法”(Radiated Two-Stage,RTS方法)已正式被3GPP标准组织承认为测试标准。作为该国际标准的提出者,通用测试在RTS方法的研究中起主导作用并做出了巨大贡献。IEEE协会向通用测试于伟博士颁发了“IEEE 技术成就奖”,该奖项表彰在计算机、信息科学、工程学或计算机技术领域创新性、及推动本领域技术进步的贡献。

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 ▲于伟博士

    

    不仅如此,通用测试代表团还主持并参加了与5G天线测量相关的1场Workshop及3场Special session。

 

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     ▲漆一宏博士主持workshop

    

    会议上,中国大陆代表团共发表论文178篇,其中通用测试贡献了7篇。

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      ▲通用测试团队

    

    种种殊荣的获得并不是偶然,它离不开通用测试自成立以来,始终专注技术研发,专注创新,专注为客户创造价值。

 

    随着5G时代的来临,通用测试更是凭借在测量理论、电磁环境、基础部件与材料、测试算法、系统集成等方面综合优势,在毫米波、相控阵天线、大功率天线测量等领域和是德科技(Keysight)、谷歌(Google)、高通(Qualcomm)等世界一流公司和国内国防基地与航天研究院开展了广泛合作。

 

    继往开来、砥砺前行,通用测试携手业界同行为实现伟大的中国梦努力奋斗!

 

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